探讨阻抗分析仪与LCR测试仪间的对比

 　　阻抗分析仪IM3570可实现不同测量条件下的高速检查，一台仪器能实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查。LCR模式下快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量。适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量，分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量。
　　LCR测试仪和阻抗分析仪被设计用于测试电子元件在某些频率或宽频率范围内的阻抗。如果阻抗不符合规格，则这些电子元件将不能正常工作。
　　LCR测试仪和阻抗分析仪使用自动平衡电桥法（ABB）和射频电流-电压法（RF I-V）两种方法测量阻抗。
　　使用自动平衡电桥法的LCR测试仪或阻抗分析仪可以在较宽的频率范围内（1MHz-100MHz）测量较大的阻抗，适用于低频、通用测试，但尚不足以进行高频测试。
　　而使用射频电流-电压法的仪器通常提供较高的精度（约1%左右），并可以在高频下测试较大的阻抗。
　　LCR测试仪和阻抗分析仪到底有哪些差别呢？
　　LCR测试仪和阻抗分析仪可以使用以上两种方法测量阻抗，这两种产品之间的差别更多的是功能和显示：
　　LCR测试仪通常采用单一频率进行测量并提供数值。
　　阻抗分析仪可以不断地切换频率进行测量，并提供频率特性图，也可以执行等效电路分析。
　　随着信号电感器和功率电感器在智能手机、平板电脑和汽车方面的使用持续增长，阻抗分析仪和LCR的应用越来越广泛，阻抗分析仪尺寸紧凑，宽频率范围，凭借高性价比获得广大用户的认可。