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安柏AT2817A精密LCR 数字电桥

安柏AT2817A精密LCR 数字电桥

简要描述:
安柏AT2817A精密LCR 数字电桥

简介

AT2817A采用了ARM处理器,真彩 TFT-LCD,全中文操作界面(可配置成英文界面),使仪器操作简单但处理能力强大。
AT2817A可同时对元件的4参数进行测试,每种参数都可任意配置,全新改进后的仪器,实现主副四参数全6位显示,可扫描10种频率或电平列表,还可对3组用户频率进行校正,提高准确度。

更新时间:2023-06-28

浏览次数:433

产品报价:

生产地址:深圳市

品牌常州安柏产地类别国产
应用领域化工,电子,电气

安柏AT2817A精密LCR 数字电桥

简介

AT2817A采用了ARM处理器,真彩 TFT-LCD,全中文操作界面(可配置成英文界面),使仪器操作简单但处理能力强大。
AT2817A可同时对元件的4参数进行测试,每种参数都可任意配置,全新改进后的仪器,实现主副四参数全6位显示,可扫描10种频率或电平列表,还可对3组用户频率进行校正,提高准确度。

仪器具有50Hz100kHz,连续测试频率(分辨率0.001Hz)0.01V2.00V的任意测试电平,可设置256次平均。

仪器提供内部触发、手动触发、外部触发和总线触发模式,14档分选输出,内置档计数功能。

AT2816B支持10组文件操作,可对用户设置的分选设置列表、扫描设置列表以及相关用户设置进行保存。

兼容SCPIRS232C接口,支持115200波特率,可通过计算机更快捷的控制仪器所有功能。

2021升级版,支持RS485/USB/GPIB(选件),兼容SCPIModbus通讯协议。

特征

真彩TFT-LCD 全中文显示。

校正功能:全量程程开路和短路扫频清零,三组用户点频校准。

多频测试:支持10个频率扫描测试

多电平测试:支持10个电平扫描测试

文件管理:10组内部存储器和10USB磁盘存储。

增强型比较器(分选)功能:可编程的P1~P9 九档分选,主参数HI,IN,LO显示和输出,NG,AUX,SREJ,IDX,EOM 等显示及输出。

绝对偏差(ABS)比较方式、相对偏差(PER)和顺序(SEQ)比较方式。

可开关的副参数(AUX)分选。

自定义分选结果讯响。

内置RS232C接口和Handler接口。

内置RS485/USB接口。(Rev.E版本适用)

可选GPIB接口。(Rev.E版本适用)

1000V冲击保护

安柏AT2817A精密LCR 数字电桥规格

测量参数

Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,R-X,Z-θrad,Z-θdeg

基本准确度

0.05%

测试频率

50Hz100kHz(连续频点,分辨率0.001Hz

测试量程

自动、手动和标称量程,9量程

测试速度

40/10/3 /

显示范围

L: 0.00001μH-9999.99H
C: 0.00001pF – 9999.99μF
R,X,Z: 0.00001Ω - 99.9999MΩ
D, 0.00001 – 9.99999
Q: 0.00001 – 99999.9
Δ%: -999999% - 999999%
θ(deg): -179.999° -179.999°
θ(rad):-3.14159 – 3.14159
DCR: 0.00001Ω ~ 99.9999MΩ

输出阻抗

30Ω50Ω 100Ω

监视参数

Z, D, Q, θr, θd, R, X, G, B, Y, Vac, Iac, Δ, Δ%

读数

所有参数全6位:999999

等效方式

串联和并联

信号电平

10.00mV~2.00V AC
100.0μA~20.00mA AC

平均次数

1~256

触发方式

内部、手动、外部和远程

触发延时

0.01ms~60s

比较器

14档分选,10组合格档,1组不合格档,
1组副参数不合格档
档计数功能:计数999999

列表扫描

10步(频率、电压和电流)

比较方式

SEQ/ABS/PER

校准

开路清零、短路清零(扫频和点频)

文件

内部存储10个文件,外部USB存储10个文件

数据记录

9999 组文件(.csv)

讯响功能

/合格/不合格

接口

RS232/RS485/USB/HANDLER/GPIB(可选)
(Rev.E版本及之后功能)

通讯协议

SCPI/Modbus*
(*Rev.E)

其它功能

自动LCZ

电源要求

AC 100V-240V, 50Hz-60Hz
20W MAX

尺寸与重量

264 ()x107()x350 ()
3kg,净重

应用

电感器、磁芯、电容器、电阻器、变压器等元件和材料测量

 


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